HP320手持式光譜照度計(jì)是新一代手持式的光源現(xiàn)場測試儀器。采用先進(jìn)的微型光譜儀、嵌入式操作系統(tǒng)和微電腦技術(shù)相融合，使測試更加便捷簡單便捷，一鍵分享，更加符合現(xiàn)場應(yīng)用場景的參數(shù)測試分析及驗(yàn)證。    

      3.5寸IPS觸摸屏，可隨時(shí)隨地進(jìn)行光源參數(shù)的采樣測量，也可連機(jī)打印測試報(bào)告。更可以對測試保存的數(shù)據(jù)在PC軟件中對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行高效的分析處理，具備*高的測量線性和準(zhǔn)確度。 

      依倨標(biāo)準(zhǔn)GB 40070-2021、JJG_245-2018、GB55016-2021、GB∕T 5702-2019 、 GB∕T 5702-2019、GB∕T 5699-2017、GBT 5700-2008、GBT 24824-2009、GB30734-2014、GBT 9473-2017、SJ_T 11281-20177、GBT 24824-2009、GB∕T 5699-2017  等各類照明燈具標(biāo)準(zhǔn)

      主要測試參數(shù)：色溫（K）、照度lx、色容差SDCM（國標(biāo)、歐標(biāo)、能源之星等）、顯色指數(shù)Ra、色坐標(biāo)、波長nm、色純度(Purity)、明暗視覺比（S/P）、透射比、光譜功率分布等

護(hù)眼燈3A測試

手持式光譜照度計(jì)

（一）、主要應(yīng)用

1、商業(yè)照明、健康照明、家居照明、建筑照明、臺燈、護(hù)眼燈等現(xiàn)場測試;

2. 實(shí)驗(yàn)室研究開發(fā)驗(yàn)證測試;

3. 家居、商場、學(xué)校、工廠、大棚、戶外等現(xiàn)場照明測量領(lǐng)域;

4、光源產(chǎn)品的研發(fā)、產(chǎn)線質(zhì)量品質(zhì)控制等環(huán)節(jié)

5、光源產(chǎn)品的在線檢測、分選、實(shí)時(shí)監(jiān)測等

（二）、產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)

1、通訊方式：USB、無線藍(lán)牙

2、多種展示方式：電腦、3.5寸觸摸屏

3、多平臺操作：電腦PC軟件控制分析、IPS觸摸屏控制操作

4、正面高點(diǎn)位信號采集，更加符合不同現(xiàn)場檢測的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用。*消除了觸摸屏反射光的誤差

（三）、核心器件

1、TCD1304DG CCD 探測器， 波段響應(yīng)范圍150-1100nm

2、增強(qiáng)鍍膜光柵：刻線數(shù)：1200線 光譜響應(yīng)380--780nm

3、增強(qiáng)準(zhǔn)直鏡、聚焦鏡

4、16位高速AD取樣

5、高精度穩(wěn)定運(yùn)算電路、

6、高精度光路、雜散光小、消除高階衍射光譜（配云譜濾光系統(tǒng)）

（三）、測試優(yōu)點(diǎn)

1、對比測試、透射比測試、參數(shù)比對（磙動、鎖定兩種模式）

2、定時(shí)測試，定時(shí)保存（可進(jìn)行光衰減測試驗(yàn)證）

3、波長可調(diào)，方便查詢（單波段更加方便查看分析）

4、自定義多點(diǎn)測試計(jì)算照度均勻度

5、測試結(jié)果修正（針對不同的場景及環(huán)境變化的測試結(jié)果系數(shù)修正）

二、光路特性（光纖光譜儀結(jié)構(gòu)）

1、多種光學(xué)輸入：直接余弦修正進(jìn)入狹縫或通過SM905光纖（配余弦修正）

2、波長范圍：380-780nm

3、光譜分辨率：±0.2nm,波長分辨率：

4、光度線性±0.3%

5、雜散光: <0.1％

6、光度探頭余弦修正：誤差≤5%，非線性≤1%

7、疲勞誤差絕對值：≤2%

8、相對示值誤差：±4%

9、零值誤差：±1%(FS)

10、信燥比：300：1

11、量程：自動    誤差±1%

12、高速數(shù)據(jù)采集，積分時(shí)間:毫秒級

13、焦距22.5mm 對稱非交叉H-T光路

14、通訊方式：USB通訊、藍(lán)牙

15、外形尺寸：148mm*60mm*18.5

16、采用先進(jìn)的微型光譜儀技術(shù)，比傳統(tǒng)的探頭測試精度更高；

17、可連接電腦軟件測試，可連接電腦打印測試報(bào)告；

18、彩色液晶顯示，圖文界面好，可顯示光譜波形、色容差橢圓圖；

19、5寸IPS觸摸屏

20、內(nèi)置4200Am 鋰電池   超長使用12小時(shí)以上

技術(shù)參數(shù)

主要測試參數(shù)